实验管理中心分析测试中心拟举办仪器知识系列讲座及实操观摩活动。具体事宜通知如下：

一、 仪器及型号：

仪器：台式X射线吸收精细结构谱仪(XAFS)

型号：RapidXAFS 2M(安徽吸收谱)

二、讲座：台式X射线吸收精细结构谱仪的基本原理和应用

主讲：黄立洲（安徽吸收谱应用工程师）

时间：2025年4月18日 9:00-11:30

地点：三教3楼308室

内容简介：

X射线谱学常用于表征配位结构信息，比如键长、配位数、配位原子类型等，也可以获得氧化态、自旋等电子结构信息。X射线谱学技术可以获得精确的电子结构信息和几何机构信息，且具有元素选择性。近年来，同步辐射大科学装置上各种空间分辨、时间分辨、能量分辨技术迅速发展，带来微观世界观测的全新手段，推动着各个领域的基础研究的发展。基于实验室源的XAFS仪器已发展成熟，该报告主要涉及：XAFS的简单原理、台式X射线精细结构谱仪简介、X射线精细结构谱仪的应用及实例、XAFS数据的简单处理。

三、操作观摩活动

时 间：2025年4月18日 14:30-17:30

安装地点：博学楼2楼203室

责任教师：王伟（联系电话：4956220）

仪器简介：

X射线谱学技术广泛应用于化工、催化、能源、纳米、环境等各个领域，是近年来发展最快的表征技术之一。传统XAFS只能在各个同步辐射光源上测试，由于国内的光源机时有限，无法满足众多科研工作者的测试需求。目前开发出的桌面型X射线吸收精细结构谱仪(Rapid XAFS)可解决此问题，该仪器可实现3d，5d，稀土元素过渡金属 XAFS 测试。

实验管理中心

2025年4月16日